漆膜测厚仪影响因素

漆膜测厚仪影响因素

漆膜测厚仪适用于导磁材料，一般为钢、银、镍。测量精度高。

漆膜测厚仪影响因素：

基体金属磁性。

磁法测厚受基体金属磁性变化的影响(低碳钢磁性变化在实际应用中可视为轻微)。为避免热处理和冷处理因素的影响，仪器校准应使用与试件基体金属性质相同的标准片；也可用于校准涂层试件。

基体金属电性质。

基体金属的电导率与材料成分和热处理方法有关，对测量有影响。使用具有相同性质的标准电影校准仪器。

基体金属厚度。

每个仪器都有一个基体金属的临界厚度。测量不受基体金属厚度的影响。

边缘效应

仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此，靠近试件边缘或内角的测量是不可靠的。

曲率

试件的曲率对测量有影响。随着曲率半径的降低，曲率半径显著增加。因此，弯曲试件的表面测量是不可靠的。

试件的变形

测试头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测量可靠的数据。

表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增加，影响增加。粗糙的表面会导致系统误差和意外误差。每次测量时，应在不同位置增加测量次数，以克服这种意外误差。如果基体金属粗糙，必须在粗糙度相似的基体金属试件上检查仪器零点；或者用对基体金属无腐蚀的溶液溶解去除覆盖层，然后检查漆膜测厚仪零点。

磁场

各种电气设备产生的强磁场会严重干扰磁法的测厚。